Подробные сведения о публикации

Nondestructive testing method for a new generation of electronics

1. Год публикации: 2018 год
2. Библиографическая ссылка:

   Anton Azin, Andrey Zhukov, Anton Narikovich, Sergey Ponomarev, Sergey Rikkonen, Vladimir Leitsin Nondestructive testing method for a new generation of electronics // MATEC Web of Conferences (YSSIP-2017). – 2018. – V.143, no. 04007. – 8 p. – URL.: https://doi.org/10.1051/matecconf/201814304007.

3. Авторы: Пономарев Сергей Васильевич Азин Антон Владимирович Рикконен Сергей Владимирович
4. Скачать: Nondestructive testing method for a new generation of electronics (.pdf)